14–17 Oct 2024
Bâtiment Salle d'Armes
Europe/Paris timezone

Optimisation du diagnostic des pannes des systèmes industriels complexes : Approche par génération de Coupes Minimales basée sur les diagrammes de décision binaire

17 Oct 2024, 12:25
20m
Salle B (Bâtiment Salle d'Armes)

Salle B

Bâtiment Salle d'Armes

Speakers

M-L. REBAIAIA (Université Laval) D. AIT-KADI (FSG, Université Laval)

Description

Le problème de la détermination des séquences de tests pour détecter les défauts et les possibles pannes dans l’ingénierie des systèmes est un problème majeur. En effet, chaque composant est assujetti à des défaillances aléatoires.
Cependant, la vérification de l’état d’un composant ou d’un sous-système est effectuée à l’aide de tests. Cependant, toute solution qui permet d’obtenir un pronostic fiable et économique est essentielle, cela permet à toute industrie d’être viable, sécuritaire et compétitive. Dans le cadre de cette étude, nous proposons un modèle de calcul qui permet de nous fournir des séquences de tests simples à générer et optimales sur la base du coût de déploiement. Cette méthode de calcul est articulée sur un algorithme efficace qu’on propose pour déterminer les coupes minimales. L'algorithme procède en déterminant l'ensemble des chemins minimaux (MPS) et à partir desquels des coupes minimales (MCS) sont générées par l’utilisation du concept de diagrammes de décision binaire réduits et ordonnés et de manipulations de termes. Le processus de manipulation consiste en une série de transformations, de réductions et d'opérations de filtrage des coupes minimales ainsi générées. L'approche a permis de réduire le temps de calcul et l'espace mémoire et a été appliquée à l'évaluation de la fiabilité de plusieurs réseaux complexes.
En outre, nous avons testé la méthode proposée en utilisant un algorithme qui permet de détecter les séquences de tests d’un système industriel bien défini. Les résultats obtenus sont intéressants et ouvrent la voie vers d’autres systèmes à tester plus complexes.

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